Seri G XRF adalah pilihan ideal untuk laboratorium dan jalur produksi, terutama bagi pengguna dengan ruang kerja terbatas, keterbatasan anggaran, atau preferensi untuk operasi "dari bawah ke atas" dengan kontrol sumbu Z yang termotorisasi. Dirancang untuk menganalisis sampel kecil dengan cepat dan mudah, sistem ini menawarkan fleksibilitas dan kinerja tinggi dalam inspeksi dan evaluasi material.
Seri K adalah sistem XRF presisi tinggi yang dirancang untuk analisis sampel yang beragam, dilengkapi dengan area pengukuran besar 12″ x 12″, panggung X-Y yang dapat diprogram, dan auto multi-kolimator untuk ukuran titik yang fleksibel. Kameranya dengan fokus variabel (0,25″ hingga 3,5″) dan navigasi tampilan meja memungkinkan pengukuran yang mudah. Untuk fitur ultra-kecil, versi optik poli-kapiler menawarkan resolusi 15µm, panggung presisi tinggi (2µm), dan kamera dengan pembesaran 140x serta zoom digital. Dilengkapi dengan detektor SDD dan tabung X-ray tahan lama, sistem ini menjamin akurasi dan kepatuhan dengan ASTM B568, ISO 3497, dan IPC-4552.
Seri Bowman L adalah instrumen XRF serbaguna dengan ruang sampel besar (22″ x 24″ x 13″) dan perjalanan panggung X-Y 10″ x 10″. Alat ini dapat menampung bagian besar atau beberapa sampel sekaligus dan mencakup rakitan kolimator 4 posisi, kamera dengan fokus variabel, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Tinggi Z ruang adalah 10″ (atau 13″ tanpa panggung). Dilengkapi dengan detektor SDD dan tabung X-ray mikro-fokus tahan lama.
Seri M memberikan pengukuran ketebalan pelapisan berkinerja tinggi untuk fitur terkecil, menggunakan optik poli-kapiler canggih yang memfokuskan sinar x-ray hingga 7,5μm FWHM. Ini dilengkapi dengan kamera pembesaran tinggi 140x dengan zoom digital yang ditingkatkan, disandingkan dengan kamera makro sekunder untuk navigasi yang mudah. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memungkinkan pengukuran multi-titik, dengan pengenalan pola otomatis dan pemetaan 2D untuk analisis topografi permukaan. Konfigurasi standar menampilkan optik 15μm, detektor LSDD resolusi tinggi, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata.
Seri O menggabungkan kinerja tinggi dan ukuran titik x-ray ultra-kecil (80μm FWHM) menggunakan optik poli-kapiler, yang memaksimalkan aliran x-ray untuk sensitivitas yang lebih tinggi dan pengujian yang lebih cepat pada komponen kecil atau pelapis tipis. Tidak seperti kolimator tradisional, sistem ini mempertahankan hampir 100% aliran tabung, memastikan pengulangan yang lebih baik dalam waktu pengujian yang lebih singkat. Ini dilengkapi dengan detektor SDD resolusi tinggi, pembesaran video 55x, zoom digital 7x, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata. Sekarang tersedia dengan opsi panggung yang diperpanjang untuk fleksibilitas yang lebih besar.
Seri XRF P memungkinkan pengukuran berbagai ukuran, bentuk, dan jumlah sampel. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memudahkan operasi melalui perangkat lunak, memungkinkan pengguna untuk berpindah ke lokasi pengukuran dengan mouse atau membuat program pengukuran multi-titik dengan satu klik. Ini mengoptimalkan pengujian untuk area kritis dan volume sampel yang lebih besar. Konfigurasi standar mencakup rakitan kolimator 4 posisi, kamera dengan fokus variabel untuk mengukur area yang cekung, detektor SDD, dan tabung X-ray mikro-fokus tahan lama. Kolimator dan jarak fokus dapat disesuaikan untuk memenuhi aplikasi spesifik.
ZEUS – CIRCULAR SIEVE SHAKER – FILTRA ZEUS Circular Sieve Shaker cocok digunakan untuk volume produksi besar dalam penyaringan industri. Alat ini dapat digunakan untuk proses pemisahan padatan dalam cairan, untuk pemisahan ukuran partikel berbeda dalam produk yang sama, dalam penyaringan pengaman untuk menghilangkan benda asing, dan untuk homogenisasi partikel. Alat ini memungkinkan volume produksi...