XRF (M SERIES)- BOWMAN

Origin: Amerika

Merek:

Category:

Seri M memberikan pengukuran ketebalan pelapisan berkinerja tinggi untuk fitur terkecil, menggunakan optik poli-kapiler canggih yang memfokuskan sinar x-ray hingga 7,5μm FWHM. Ini dilengkapi dengan kamera pembesaran tinggi 140x dengan zoom digital yang ditingkatkan, disandingkan dengan kamera makro sekunder untuk navigasi yang mudah. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memungkinkan pengukuran multi-titik, dengan pengenalan pola otomatis dan pemetaan 2D untuk analisis topografi permukaan. Konfigurasi standar menampilkan optik 15μm, detektor LSDD resolusi tinggi, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata.

 

MODEL: XRF M SERIES

SPECIFICATION

Eksitasi X-ray: 50W W-target Optik Kapiler @15µm FWHM pada 17 KeV

Opsional: Cr, Mo, atau Rh

Detektor: Detektor silikon dengan jendela besar yang terdrift dengan resolusi 190eV atau lebih baik
Jumlah lapisan analisis dan elemen: 5 lapisan (4 lapisan + dasar) dan 10 elemen di setiap lapisan dengan analisis komposisi hingga 30 elemen secara bersamaan
Filters: 4 filter primer
Kedalaman Fokus Output: Tetap pada 0,15″ (3,81mm)
Pemrosesan Puls Digital: Analisa multi-saluran digital 4096 CH dengan waktu pembentukan yang fleksibel. Pemrosesan sinyal otomatis termasuk koreksi waktu mati dan koreksi puncak pelarian
Komputer: Prosesor desktop Intel CORE i5 generasi ke-9, hard drive solid state, 16GB RAM, Microsoft Windows 11 Professional 64bit setara
Optik Kamera: 1/4″ (6mm) CMOS-1280×720 resolusi VGA, 250X dengan Kamera Ganda atau 45X dengan Kamera Tunggal di layar 381mm (15″)
Perbesaran Video: 140X Mikro, 7X Zoom digital, 9X Makro & Tampilan Meja
Catu Daya: 150W, 100-240 volt, dengan rentang frekuensi 47Hz hingga 63Hz
Lingkungan Kerja: 68°F (20°C) hingga 77°F (25°C) dan hingga 98% RH, tanpa kondensasi
Berat: 70kg
XY yang Dapat Diprogram: Ukuran meja: 432 mm (17″) x 406mm (16″) | Perjalanan: 165mm (6,5″) x 165mm (6,5″) presisi tinggi
Max Extended XY yang Dapat Diprogram: Ukuran meja: 813mm (32″) x 781mm (30,75″) | Perjalanan: 406mm (16″) x 406mm (16″)

Sekarang tersedia dengan opsi panggung yang diperpanjang maksimum

Dimensi Internal: Tinggi: 137mm (5,4″), Lebar: 305mm (12″), Kedalaman: 330mm (13″)
Dimensi Eksternal: Tinggi: 508mm (20″), Lebar: 457mm (18″), Kedalaman: 610mm (24″)

PRODUCT VIEWED

Seri M memberikan pengukuran ketebalan pelapisan berkinerja tinggi untuk fitur terkecil, menggunakan optik poli-kapiler canggih yang memfokuskan sinar x-ray hingga 7,5μm FWHM. Ini dilengkapi dengan kamera pembesaran tinggi 140x dengan zoom digital yang ditingkatkan, disandingkan dengan kamera makro sekunder untuk navigasi yang mudah. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memungkinkan pengukuran multi-titik, dengan pengenalan pola otomatis dan pemetaan 2D untuk analisis topografi permukaan. Konfigurasi standar menampilkan optik 15μm, detektor LSDD resolusi tinggi, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata.