MICRO XRF (A SERIES)- BOWMAN

Origin: Amerika

Merek:

Category:

Seri A MICRO XRF dirancang untuk pengukuran presisi fitur X-ray terkecil dalam semikonduktor dan mikroelektronik. Sistem ini mendukung PCB besar dan wafer dengan ukuran apa pun, dengan sinar X FWHM 7,5 μm—yang terkecil di dunia untuk XRF. Sistem dual-kamera dengan perbesaran 140X menyediakan pencitraan detail, sementara panggung X-Y yang dapat diprogram bergerak hingga 600 mm dengan akurasi ±1 μm. Pengenalan pola, fokus otomatis, dan pemetaan 3D mengoptimalkan akurasi pengukuran.

 

MODEL: MICRO XRF A SERIES 

SPECIFICATION

Element Range: Aluminium 13 to Uranium 92
X-ray excitation: 50 W Mo target Capillary Optics @7.5µm FWHM at 17 KeV

Optional: Cr or W

Detector: Large window Silicon drifted detector with 190eV resolution or better
Number of analysis layers and elements: 5 layers (4 layers + base) and 10 elements in each layer. Composition analysis of up to 30 elements simultaneously
Filters/Collimators: 4 primary filters
Output Focal Depth: Fixed at 0.08″ (2.03mm)
Digital Pulse Processing: 4096 CH digital multi-channel analyzer with flexible shaping time. Automatic signal processing, including dead time correction and escape peak correction
Computer: Intel CORE i5 9th gen. desktop processor, solid state hard drive, 16GB RAM, Microsoft Windows 11 Professional 64bit equivalent
Camera optics: 1/4″ CMOS-1280×720 VGA resolution
Video Magnification: 140X Micro & 7X Digital Zoom: 9X Macro & Table View
Power Supply: 720W, 100~240 volts; frequency range 47Hz to 63Hz
Weight: 1000kg (2200 lbs)
Working Environment: 68°F (20°C) to 77°F (25°C) and up to 98% RH, non-condensing
Programmable XYZ: XYZ travel: 600mm (23.6″) x 600mm (23.6″) x 89mm (3.5″)

XY tabletop: 559mm (22″) x 584mm (23″)

XYZ-axis precision: 1um (40u”)

Internal Dimensions: Height: 102mm (4″), Width: 1397mm (55″), Depth: 1473mm (58″)
External Dimensions: Height: 1778mm (70″), Width: 1473mm (58″), Depth: 1575mm (62″)
Other New Features: Z protection array, Auto focus, Focus laser, Pattern recognition, Semi S2 S8 compliant-ready

PRODUCT VIEWED

Seri A MICRO XRF dirancang untuk pengukuran presisi fitur X-ray terkecil dalam semikonduktor dan mikroelektronik. Sistem ini mendukung PCB besar dan wafer dengan ukuran apa pun, dengan sinar X FWHM 7,5 μm—yang terkecil di dunia untuk XRF. Sistem dual-kamera dengan perbesaran 140X menyediakan pencitraan detail, sementara panggung X-Y yang dapat diprogram bergerak hingga 600 mm dengan akurasi ±1 μm. Pengenalan pola, fokus otomatis, dan pemetaan 3D mengoptimalkan akurasi pengukuran.  

MINERVA – CENTRIFUGAL SCREENER – FILTRA MINERVA digunakan ketika produktivitas tinggi diperlukan, dengan dua jenis pengayakan yang memungkinkan: Pengayakan Pemisahan Untuk produk granulasi berbeda dengan karakteristik aliran buruk Khusus material sulit diayak karena kandungan kelembaban, minyak, atau listrik statis tinggi Pengayakan Keamanan Untuk produk akhir guna menghilangkan kemungkinan kotoran Digunakan di sektor industri seperti makanan, farmasi,...

Oxipack Can Leak Tester (CLT) adalah solusi serbaguna yang dirancang untuk menguji berbagai jenis kaleng, termasuk kaleng logam dan karton komposit, dengan atau tanpa label kertas. Menggunakan metode vacuum decay untuk pengujian kebocoran, CLT dilengkapi dengan membran fleksibel berpaten yang telah disetujui FDA dan dibentuk sesuai dengan bentuk kemasan. Desain ini memungkinkan terbentuknya ruang ukur kecil di sekitar kemasan serta vakum dalam di dalam ruang uji, sehingga dapat melindungi segel dan isi kemasan secara optimal.

Glovebox dirancang untuk menyediakan ruang kerja yang tertutup rapat (hermetis) dan sangat disesuaikan, di bawah kondisi yang sangat terkontrol.

TH 12 SMART 12-Position Tablet Hardness Tester tampil dengan layar sentuh resolusi tinggi 7 inci, perangkat lunak cerdas yang mematuhi 21 CFR Part 11, dan kemampuan untuk secara otomatis mengukur hingga 100 tablet dalam satu kali pengukuran, memberikan kinerja superior dibandingkan dengan model lainnya. Perangkat ini juga dilengkapi dengan fungsi penghentian otomatis untuk nilai di luar ambang batas, penyelarasan tablet otomatis, dan mata pisau pembersih untuk  lintasan pengukuran, sehingga memastikan akurasi dan efisiensi yang optimal.

Seri W Micro XRF dari Bowman memiliki sinar X dengan FWHM 7,5 µm, yang merupakan yang terkecil di dunia untuk analisis ketebalan pelapisan menggunakan teknologi XRF. Ini menjadikannya ideal untuk mengukur komponen kecil seperti BGA dan tonjolan solder. Alat ini mencakup sistem dual-kamera dengan perbesaran 140X untuk pencitraan presisi dan kamera sekunder untuk tampilan langsung. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan akurasi ±1 µm, bersama dengan pengenalan pola dan fokus otomatis, memungkinkan pengukuran yang tepat dan analisis multi-titik otomatis. Sistem ini juga menawarkan pemetaan 3D untuk visualisasi topografi pelapisan. Konfigurasi standar mencakup tabung anoda molibdenum (dengan opsi kromium atau tungsten) dan Detektor Drift Silicon resolusi tinggi. Instrumen ini dapat mengukur hingga lima lapisan pelapisan secara bersamaan dan beroperasi dengan perangkat lunak Archer, yang menyederhanakan pengukuran, pelaporan, dan pengaturan aplikasi.

Model STMC menghasilkan WFI steril. Proyek Bram-Cor dibuat bertujuan untuk memenuhi semua persyaratan regulasi dan QA farmasi, menyelaraskan pembuatan Vapor Compression Distiller dengan cGMP (Good Manufacturing Practices) internasional dan Farmakope. Target Bram-Cor dalam kegiatan desain, manufaktur, dokumentasi, pengujian, dan validasi berfokus pada kepatuhan keseluruhan peralatan terhadap kebutuhan industri farmasi dan bioteknologi.